|
Научная визуализация
Год выпуска: | 2017 |
Квартал: | 2 |
Том: | 9 |
Номер: | 2 |
Страницы: | 43 - 48 |
|
Название публикации: |
ВИЗУАЛИЗАЦИЯ ГЕОМЕТРИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ ДИФФУЗНО РАССЕИВАЮЩИХ ПЛОСКИХ ТЕЛ С ПОМОЩЬЮ СТРУКТУРИРОВАННОГО ОПТИЧЕСКОГО ИЗЛУЧЕНИЯ |
Авторы: |
А.М. Вин (Республика Мьянма), И.Н. Павлов (Россия), Б.С. Ринкевичюс (Россия) |
Адреса авторов: |
А.М. Вин
http://orcid.org/0000-0002-8265-204X
И.Н. Павлов
http://orcid.org/0000-0002-9014-6294
Кафедра физики им. В.А. Фабриканта Национальный исследовательский университет «МЭИ», Москва, Россия
Б.С. Ринкевичюс
rinkevbs@mail.ru
http://orcid.org/0000-0001-7336-1315
Кафедра физики им. В.А. Фабриканта Национальный исследовательский университет «МЭИ», Москва, Россия |
Краткое описание: |
Предложен и разработан новый оптико-электронный метод количественной визуализации параметров плоских объектов с помощью структурированного оптического излучения (СОИ), получаемого от источников когерентного излучения с помощью различных дифракционных оптических элементов (ДОЭ). В данной статье используется СОИ в виде упорядоченной сетки точечных источников излучения с заданными расстояниями между ними. Исследуемый плоский объект закрепляется на экране и освещается СОИ. Получаемое изображение фотографируется цифровым фотоаппаратом и далее воспроизводится на экране компьютера.
Приведено подробное описание элементов измерительного комплекса, который состоит из источника непрерывного когерентного излучения с длиной волны 0,552 мкм, ДОЭ, позволяющего получить с помощью объектива с большой апертурой СОИ в виде квадратной матрицы тонких пучков излучения с известными расстояниями между ними 3,4 мм на расстоянии 750 мм до экрана.
Также приведено подробное описание методики визуализации и обработки плоских картин визуализации. Данный метод получения фотографического изображения плоского предмета отличается от стандартного фотографирования тем, что наряду с получением изображения объекта регистрируется информация о параметрах точечных источников излучения в составе СОИ, которая в дальнейшем используется для определения геометрических параметров исследуемого объекта. Приведены примеры определения геометрических параметров различных плоских объектов: прямоугольника, треугольника и др. при их различных положениях на экране.
Данный метод бесконтактного определения параметров плоских объектов может найти широкое применение в различных областях современной техники. Например, при создании автоматизированной системы бесконтактной классификации объектов по заданным параметрам. |
Язык: |
Русский |
|
|
|